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    德國蔡司場發射掃描電子顯微鏡Sigma 系列產品-華普通用

    型號:Sigma 系列
    德國蔡司Sigma 系列產品用于高品質成像與高級分析的場發射掃描電子顯微鏡

    產品描述

    蔡司Sigma 系列場發射掃描電子顯微鏡

    蔡司Sigma 系列場發射掃描電子顯微鏡

    用于高品質成像與高級分析的場發射掃描電子顯微鏡

    靈活的探測,4步工作流程,高級的分析性能

    將高級的分析性能與場發射掃描技術相結合,利用成熟的 Gemini 電子光學元件。多種探測器可選:用于顆粒、表面或者納米結構成像。Sigma 半自動的4步工作流程節省大量的時間:設置成像與分析步驟,提高效率。
    Sigma 300 性價比高。Sigma 500 裝配有一流的背散射幾何探測器,可快速方便地實現基礎分析。任何時間,任何樣品均可獲得精準可重復的分析結果。

     

    纖維,在傷口護理中敷的抗菌藥

    ▲用于清晰成像的靈活探測

     利用先進探測術為您的需求定制 Sigma,表征所有樣品。

     利用 in-lens 雙探測器獲取形貌和成份信息。

     利用新一代的二次探測器,獲取高達50%的信號圖像。在可變壓力模式下利用 Sigma 創新的 C2D 和 可變壓力探測器,在低真空環境下獲取高達85%對比度的銳利的圖像。

     



    Sigma 的 4 步工作流程節省大量的時間

    自動化加速工作流程

      4步工作流程讓您控制 Sigma 的所有功能。在多用戶環境中,從快速成像和節省培訓首先,先對樣品進行導航,然后設置成像條件。

      首先,先對樣品進行導航,然后設置成像條件。

      接下來對樣品感興趣的區域進行優化并自動采集圖像。最后使用工作流程的最后一步,將結果可視化。


     

    使用頂級的 EDS 幾何探測器加速 X 射線分析

    高級分析型顯微鏡

      將掃描電子顯微鏡與基本分析相結合:Sigma 一流的背散射幾何探測器大大提升了分析性能,特別是對電子束敏感的樣品。

      在一半的檢測束流和兩倍的速度條件下獲取分析數據。

      獲益于8.5 mm 短的分析工作距離和35°夾角,獲取完整且無陰影的分析結果。


     配件

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     SmartEDX

       為您帶來一體化能譜分析解決方案

      單采用SEM成像技術無法全面了解部件或樣品,研究人員就需要在SEM中采用能譜儀(EDS)來進行顯微分析。通過針對低電壓應用而優化的能譜解決方案,您可以獲得元素化學成分的空間分布信息。得益于:

      優化了常規的顯微分析應用,并且由于氮化硅窗口優秀的透過率,可以探測輕元素的低能X射線。

     工作流程引導的圖形用戶界面極大地改善了易用性,以及多用戶環境中的重復性。    完整的服務和系統支持,由蔡司工程師為您的安裝、預防性維護及保修提供一站式服務。


     

     拉曼成像與掃描電鏡聯用系統

    完全集成化的拉曼成像

     在您的數據中加入拉曼光譜及成像結果,獲得材料更豐富的表征信息。通過擴展蔡司Sigma 300,使其具備共聚焦拉曼成像功能,您能夠獲得樣品中獨一無二的化學指紋信息,從而指認其成分。

     識別分子和晶體結構信息

     可進行3D分析,在需要時可關聯SEM圖像、拉曼面掃描成像和EDS數據。

     完全集成RISE讓您體驗由先進的SEM和拉曼系統帶來的優勢。


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