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    日本理學ZSX Primus III+ 波長色散X射線熒光光譜儀

    型號:ZSX Primus III+
    X射線管位于分析樣品上方,最大程度減少了真空室內飄散粉末損壞光管的風險,并且無需在進行粉末樣品

    產品描述

    X射線管位于分析樣品上方,最大程度減少了真空室內飄散粉末損壞光管的風險,并且無需在進行粉末樣品分析時使用粘合劑,使樣品制備更快捷簡便。
    可在慢速和快速直接切換抽真空和卸真空速率,使粉末和金屬樣品的樣品處理量達到最佳。


    特點
    • 實現粉末、固體樣品不同元素不同含量的高精度分析

    • 高精度定位樣品臺滿足合金分析高精度要求

    • 特殊光學系統減少樣品表面不平而引起的誤差

    • 樣品室可簡單移出方便清潔

    • 操作界面簡潔、自動化程度高

    ZSX Primus III +

    Rigaku ZSX Primus III +以很少的標準在各種樣品類型中快速定量測定從氧氣(O)到鈾(U)的主要和次要原子元素。

    高于光學元件的管道,可靠性更高

    ZSX Primus III +具有創新的光學上述配置。由于樣品室的維護,再也不用擔心被污染的光束路徑或停機時間。光學元件以上的幾何結構消除了清潔問題并延長了使用時間。

    高精度樣品定位

    樣品的高精度定位確保樣品表面與X射線管之間的距離保持恒定。這對于要求高精度的應用很重要,例如合金分析。ZSX Primus III +采用獨特的光學配置進行高精度分析,旨在最大限度地減少樣品中非平坦表面引起的誤差,如熔融珠和壓制顆粒

    使用EZ-scan軟件的SQX基本參數

    EZ掃描允許用戶在未事先設置的情況下分析未知樣品。節省時間功能只需點擊幾下鼠標并輸入樣品名稱。結合SQX基本參數軟件,它可以提供最準確,最快速的XRF結果。SQX能夠自動校正所有的矩陣效應,包括線重疊。SQX還可以校正光電子(光和超輕元素),不同氣氛,雜質和不同樣品尺寸的二次激發效應。使用匹配庫和完美的掃描分析程序可以提高準確度。

    特征

    • 元素從O到U的分析

    • 管道上方的光學器件使污染問題最小化

    • 占地面積小,使用的實驗室空間有限

    • 高精度樣品定位

    • 特殊光學元件可減少曲面樣品表面造成的誤差

    • 統計過程控制軟件工具(SPC)

    • 吞吐量可以優化疏散和真空泄漏率


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