日本理學波長色散XRF
德國蔡司掃描電鏡
德國斯派克能量色散XRF
德國斯派克直讀光譜儀
德國斯派克ICP
蔡司工業CT與三維掃描儀
絕緣電阻測試系統
物理材料實驗室設備
標準樣品
-
BTPM-MWS1低濃度恒溫恒濕半自動稱重系統-華普通用
BTPM-MWS1是丹東百特儀器有限公司研制的一種半自動稱重系統，用于顆粒物采樣濾膜、濾嘴的實驗室恒溫恒濕平衡及手動稱重。 -
日本Otsuka界達電位ELSZ-2000
此設備可測量濃度低的溶液～濃度高的溶液的ZETA電位?粒徑及分子量。粒徑測量范圍（0 6nm～10μm），濃度范圍（0 00001%～40%）。實測電氣滲透流 -
日本Otsuka顯微分光膜厚儀OPTM SERIES
使用顯微光譜法在微小區域內通過絕對反射率進行測量，可進行高精度膜厚度 光學常數分析。 可通過非破壞性和非接觸方式測量涂膜的厚度，例如各種膜、晶片、光學材料和多層膜。 測量時間 -
日本Otsuka膜厚測量用多通道光譜儀MCPD系列
光譜儀（MCPD-9800 MCPD-3700 MCPD-7700） 提供豐富選配套件以及客制化光纖， 可依據安裝現場需求評估設計，是一套可靈活架設于各種環境下的最佳即時測量系統 -
美國Buehler AutoMet 250 研磨拋光機
AutoMet系列研磨拋光機專為嚴苛的生產實驗室環境而設計。 AutoMet 250適用于手動或自動樣品制備，其簡單靈活的操作，讓用戶可以輕松地應對多種應用需求 -
威爾遜 VH1102和1202維氏硬度計
VH1102和VH1202為顯微硬度測試提供了通用、經濟且可靠的解決方案，兩款產品都可以用于質量控制和金相研究應用。 -
威爾遜 VH3100 維氏硬度計
一臺革命性的精密硬度計，具有強大的50 gf - 10 kgf的荷載施加范圍，采用處于專利申請中的安全防撞技術以及行業中最先進的光學器件 -
威爾遜Rockwell 574 洛氏硬度計
574系列洛氏硬度計不僅質量優異、經久耐用，而且具有業內領先的量具重復性和再現性(GR&R)，因此它是同類產品中性能最佳的硬度計。 -
威爾遜 Rockwell 2000洛氏硬度計
Rockwell 2000系列具有最高的深度測量精度和分辨率，因此，能提供業界領先的重復性和再現（GR&R性）。 -
美國TA 熱重分析儀Discovery TGA
Discovery TGA融合了我們處于業界領先的熱天平、創新的紅外加熱爐、擁有專利 的高分辨TGATM技術，以及具有無與倫比的靈活性和可靠性的自動進樣器。 -
美國TA SC-TGA 同步熱分析儀Q600
Q600是一臺同時測量樣品重量變化(TGA)和熱流(DSC)的同步熱分析儀，溫度范圍從室溫~1500℃。 -
美國TA 熱重分析儀Q5000IR
TGA 測量的是材料在一定環境條件下，其重量隨溫度或時間的變化，目的是 研究材料的熱穩定性和組份。